一體大量程涂層測厚儀型號:RR64-leeb253

leeb253磁性測厚儀|漆膜測厚儀是一種超小型測量儀，它能快速、無損傷、精密地進(jìn)行磁性金屬基體上的非磁性覆蓋層厚度的測量；廣泛用于制造業(yè)、金屬加工業(yè)、化工業(yè)、商檢等檢測領(lǐng)域；該儀器體積小、測頭與儀器一體化，適用于工程現(xiàn)場測量。
符合以下標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 4956─1985 磁性方法；
JJG 818-95 《磁阻法測厚儀》；
JB/T8393-1996磁性和渦流覆層測厚儀。

一體大量程涂層測厚儀型號:RR64-leeb253
功能與特點(diǎn)
采用了磁性測厚方法，可無損地測量磁性金屬基體(如鋼、鐵、合金和硬磁性鋼等)上非磁性；
覆蓋層的厚度(如鋅、鋁、鉻、銅、橡膠、油漆等)；
可進(jìn)行零點(diǎn)校準(zhǔn)及二點(diǎn)校準(zhǔn)，并可用基本校準(zhǔn)法對測頭的系統(tǒng)誤差進(jìn)行修正；
具有兩種測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
具有兩種工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)；
具有米、英制轉(zhuǎn)換功能；
具有欠壓指示功能；
操作過程有蜂鳴聲提示；
具有錯(cuò)誤提示功能；
具有自動(dòng)關(guān)機(jī)功能。
技術(shù)參數(shù)
測頭類型：F；
測量原理：磁感應(yīng)；
測量范圍： 0-6000um；
低限分辨力：1μm(10um以下為0.1um)；
探頭連接方式：一體化；
示值誤差：
一點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[3%H+1]；
兩點(diǎn)校準(zhǔn)(um)：±[（1%~3%）H+1]；
測量條件：
zui小曲率半徑(mm)：凸1.5 | 凹9；
基體zui小面積的直徑(mm)：ф7；
zui小臨界厚度(mm)：0.5；
溫濕度：0~40℃ | 20%RH～90%RH；
工作方式：直接方式(DIRECT)和成組方式(Appl)；
測量方式：連續(xù)測量方式（CONTINUE）和單次測量方式（SINGLE）；
上下限設(shè)置：無；
關(guān)機(jī)方式：自動(dòng)；
電源：二節(jié)3.6V鎳鎘電池；
外形尺寸：150×55.5×23mm；
重量：150g。

一體磁性，0-6000um，一個(gè)按鍵